Difríochtaí idir micreascóp leictreon agus micreascóp meiteagrafach
Prionsabal an mhicreascóp leictreon a scanadh
Is córas casta é Scanadh Leictreonmhicreascóp (SEM). Tá teicneolaíocht optaic leictreonach, teicneolaíocht bhfolús, struchtúr meicniúil fíneáil agus teicneolaíocht rialaithe ríomhaireachta nua-aimseartha comhchruinnithe. Bailíonn scanadh micreascóp leictreon (SEM) leictreoin a astaítear le gunna leictreon isteach i léasacha leictreon mín trí lionsaí leictreamaighnéadacha ilchéimeacha faoi ghníomhaíocht ardvoltais luathaithe. Is féidir le scanadh an dromchla samplach faisnéis éagsúla a spreagadh, ar féidir é a fháil, a aimpliú, a thaispeáint agus a íomháú chun anailís a dhéanamh ar dhromchla an tsampla. Idirghníomhaíonn na leictreoin teagmhais leis an sampla chun cineálacha faisnéise a ghiniúint mar a thaispeántar i bhFíor 1. Athraíonn dáileadh déine déthoiseach na faisnéise seo le saintréithe an dromchla sampla (cuimsíonn na saintréithe seo moirfeolaíocht dromchla, comhdhéanamh, treoshuíomh criostail, tréithe leictreamaighnéadacha, etc. .). Déantar an fhaisnéis a bhailíonn brathadóirí éagsúla a thiontú go comharthaí físe in ord agus i gcomhréir, agus ansin a tharchur chuig an kinescope scanadh sioncrónach chun a gile a mhodhnú, ionas gur féidir pictiúr scanadh a léiríonn riocht dromchla an tsampla a fháil. Má dhéantar an comhartha a fhaigheann an brathadóir a dhigitiú agus a thiontú ina chomhartha digiteach, is féidir leis an ríomhaire é a phróiseáil agus a stóráil tuilleadh. Úsáidtear scanadh micreascóp leictreon (SEM) go príomha chun samplaí tiubh a bhreathnú le difríocht mhór airde agus garbh, agus mar sin leagann sé béim ar dhoimhneacht an éifeacht réimse sa dearadh agus úsáidtear é go ginearálta chun anailís a dhéanamh ar bristeacha agus dromchlaí nádúrtha gan cóireáil láimhe.
Micreascóp leictreon agus micreascóp meiteagrafach
Gcéad dul síos, tá an fhoinse solais difriúil: úsáideann an micreascóp metallographic solas infheicthe mar fhoinse solais, agus úsáideann an micreascóp leictreon scanadh bhíoma leictreon mar fhoinse solais le haghaidh íomháithe.
Sa dara háit, tá an prionsabal difriúil: úsáideann micreascóp metallographic prionsabal íomháithe optaic geoiméadrach chun íomhá, úsáideann scanadh micreascóp leictreon bhíoma leictreon ard-fhuinnimh chun an dromchla samplach a bhuamáil, rud a spreagann comharthaí fisiceacha éagsúla ar an dromchla samplach, agus ansin úsáideann brathadóirí comhartha éagsúla a fháil. comharthaí fisiceacha agus iad a thiontú go faisnéis íomhá.
Ar an tríú dul síos, tá an taifeach difriúil: mar gheall ar chur isteach agus díraonadh an tsolais, ní féidir réiteach an mhicreascóp mhiotalagrafaíochta a theorannú ach go 0.2-0.5um. Toisc go n-úsáideann scanadh micreascóp leictreon bhíoma leictreon mar fhoinse solais, is féidir a réiteach a bhaint amach 1-3nm, mar sin baineann an breathnóireacht micreascóp mhiotalagrafaíochta le hanailís ar scála miocrón, agus is le hanailís nana-scála a bhaineann breathnóireacht micreastruchtúr an mhicreascóp leictreon scanadh. .
Ceathrú, tá doimhneacht an réimse difriúil: Go ginearálta, tá doimhneacht réimse an mhicreascóp mhiotalagrafaíochta idir 2-3um, agus mar sin tá réidh dromchla an tsampla thar a bheith ard, agus mar sin tá an próiseas ullmhúcháin sampla sách casta. Ar an láimh eile, tá doimhneacht réimse mór ag an micreascóp leictreon scanadh, réimse mór radhairc agus íomhá tríthoiseach, is féidir breathnú díreach ar struchtúr fíneáil na dromchlaí míchothrom de shamplaí éagsúla.
