Difríochtaí idir micreascóip leictreon agus micreascóip mhiotalagrafaíochta
Prionsabail Scanadh Mhicreascópachta Leictreon
Is córas casta é an Mhicreascóip Scanadh Leictreon (SEM), arna ghiorrú mar SEM; comhdhlúthaíonn sé teicneolaíocht optúil leictreon, teicneolaíocht bhfolús, struchtúr meicniúil fíneáil agus teicneolaíocht rialaithe ríomhaireachta nua-aimseartha. Bailíonn an micreascóp leictreon scanadh na leictreoin a astaíonn an gunna leictreon isteach i léas leictreon fíneáil trí lionsa leictreamaighnéadacha ilchéime faoi ghníomhaíocht ardvoltais luathaithe. Déan dromchla an tsampla a scanadh chun faisnéis éagsúla a spreagadh, agus anailís a dhéanamh ar dhromchla an tsampla tríd an eolas a fháil, a aimpliú agus a thaispeáint. Táirgeann idirghníomhú na leictreoin eachtra leis an sampla na cineálacha faisnéise a thaispeántar i bhFíor 1. Athraíonn dáileadh déine déthoiseach na faisnéise seo le tréithe an dromchla sampla (cuimsíonn na saintréithe seo moirfeolaíocht dromchla, comhdhéanamh, treoshuíomh criostail, airíonna leictreamaighnéadacha. , etc.), agus déantar an fhaisnéis a bhailíonn brathadóirí éagsúla a thiontú go seicheamhach agus go comhréireach Seoltar comhartha físe chuig feadán pictiúir a scanadh go sioncronach agus déantar a ghile a mhodhnú chun íomhá scanadh a fháil a léiríonn riocht dromchla an tsampla. Má dhéantar an comhartha a fhaigheann an brathadóir a dhigitiú agus a thiontú ina chomhartha digiteach, is féidir le ríomhaire é a phróiseáil agus a stóráil tuilleadh. Úsáidtear an micreascóp leictreon scanadh go príomha chun samplaí tiubh a urramú le difríocht mhór airde agus garbh, agus mar sin tá doimhneacht an éifeacht réimse aibhsithe sa dearadh, agus úsáidtear é go ginearálta chun anailís a dhéanamh ar bristeacha agus dromchlaí nádúrtha nach bhfuil próiseáilte go saorga.
Mhicreascóip Leictreonaic agus Mhicreascóip mhiotalagrafaíochta
1. Foinsí solais éagsúla: úsáideann micreascóip mhiotalagrafaíochta solas infheicthe mar fhoinse solais, agus úsáideann micreascóip leictreon scanadh bíomaí leictreon mar fhoinse solais le haghaidh íomháithe.
2. Tá an prionsabal difriúil: úsáideann an micreascóp metallographic prionsabal an íomháithe optúla geoiméadrach le haghaidh íomháithe, agus úsáideann an micreascóp leictreon scanadh bíomaí leictreon ard-fhuinnimh chun an dromchla samplach a bhomadh chun comharthaí fisiceacha éagsúla a spreagadh ar an dromchla sampla, agus ansin úsáidí éagsúla. brathadóirí comhartha chun comharthaí fisiceacha a fháil agus iad a thiontú ina n-íomhánna faisnéise.
3. Tá an taifeach difriúil: mar gheall ar chur isteach agus díraonadh an tsolais, ní féidir le réiteach an mhicreascóp mhiotalagrafaíochta a theorannú ach go 0.2-0.5um. Toisc go n-úsáideann an leictreon-mhicreascóp scanadh léasaí leictreon mar fhoinse solais, is féidir leis a thaifeach a shroicheadh idir 1-3nm. Dá bhrí sin, baineann breathnóireacht fíocháin an mhicreascóip mhiotagrafaíochta le hanailís ar scála miocrón, agus baineann breathnóireacht fíocháin scanadh leictreon micreascóp le hanailís nana-scála.
4. Tá doimhneacht an réimse difriúil: tá doimhneacht réimse micreascóp miotalagrafaíochta ginearálta idir 2-3um, agus mar sin tá ceanglais an-ard aige maidir le réidh le dromchla an tsampla, agus mar sin tá an próiseas ullmhúcháin sampla sách achrannach. Tá doimhneacht réimse mór, réimse radhairc mór, agus íomháú tríthoiseach ag an micreascóp leictreon scanadh, a fhéadfaidh struchtúr fíneáil dhromchla míchothrom samplaí éagsúla a urramú go díreach.
