Conas a oibríonn leictreon-mhicreascóp scanadh? Cad iad na buntáistí?
1: Scanadh Mhicreascóip Leictreonaigh
Ós rud é go bhfuil an micreascóp leictreon tarchurtha íomháithe ag TE, ní mór tiús an tsampla a bheith laistigh den raon méide is féidir leis an bhíoma leictreon a threá. Chuige sin, is gá samplaí mórmhéide a chlaochlú go leibhéal inghlactha do mhicreascópacht leictreoin tarchurtha trí mhodhanna éagsúla ullmhúcháin samplaí achrannacha.
Cibé an féidir é a úsáid go díreach airíonna ábhar an ábhair dromchla samplach le haghaidh íomháithe micreascópacha tar éis éirí an sprioc atá á saothrú ag eolaithe.
Tar éis obair chrua, tháinig an smaoineamh seo chun bheith ina ----- scanadh micreascóp leictreon (ScanningElectronicMicroscopy, SEM).
Is ionstraim optúil leictreonach é SEM a úsáideann beam leictreon an-fíneáil chun dromchla an tsampla atá le breathnú a scanadh, agus bailíonn sé sraith faisnéise leictreonacha a ghintear tríd an idirghníomhú idir an bhíoma leictreon agus an sampla, a chlaochlú agus a aimpliú chun foirm a dhéanamh. íomhá. Is uirlis úsáideach é chun staidéar a dhéanamh ar struchtúr dromchla tríthoiseach.
Is é a phrionsabal oibre:
Sa bairille lionsa ard-fholús, tá an beam leictreon a ghineann an gunna leictreon dírithe isteach i bhíoma tanaí ag an lionsa inréimneach leictreon, agus déantar é a scanadh agus a thumadh pointe ar phointe ar an dromchla samplach chun sraith faisnéise leictreonacha a ghiniúint (leictreoin tánaisteacha). , leictreoin ais-léirithe, leictreoin tarchurtha, Leictreonaic ionsúcháin, etc.), faightear comharthaí leictreonacha éagsúla ag an brathadóir, aimplithe ag an aimplitheoir leictreonach, agus ansin ionchur chuig an bhfeadán pictiúr arna rialú ag an eangach feadáin pictiúr.
Nuair a scanadh an bhíoma leictreon dírithe ar dhromchla an tsampla, mar gheall ar na hairíonna fisiceacha agus ceimiceacha éagsúla, acmhainneacht dromchla, comhdhéanamh eiliminteach agus cruth cuasach-dhronnach ar dhromchla codanna éagsúla den sampla, tá an fhaisnéis leictreonach ar bís ag an bhíoma leictreon. difriúil, a eascraíonn i bhíoma leictreon an fheadáin pictiúr Athraíonn an déine freisin go leanúnach, agus ar deireadh is féidir íomhá a fhreagraíonn do struchtúr dromchla an tsampla a fháil ar scáileán fluaraiseacha an kinescope. Ag brath ar an comhartha leictreonach a fhaigheann an brathadóir, is féidir an íomhá leictreon backscattered, íomhá leictreon tánaisteach, íomhá leictreon ionsú, etc. den sampla a fháil faoi seach.
Mar a thuairiscítear thuas, tá na modúil seo a leanas den chuid is mó ag micreascóp leictreon scanadh: modúl córas optúil leictreon, modúl ardvoltais, modúl córas bhfolús, modúl braite comhartha micrea, modúl rialaithe, modúl rialaithe céim micrea, etc.
Dhá: na buntáistí a bhaineann le micreascópacht leictreon a scanadh
1. Formhéadú
Ós rud é go bhfuil méid scáileáin fluaraiseacha an mhicreascóp leictreon scanadh socraithe, déantar an t-athrú méadaithe a bhaint amach trí athrú a dhéanamh ar aimplitiúid scanadh an bhíoma leictreoin ar dhromchla an tsampla.
Má laghdaítear sruth an choil scanadh, laghdófar raon scanadh an bhíoma leictreon ar an sampla agus méadófar an formhéadú. Tá an coigeartú an-áisiúil, agus is féidir é a choigeartú go leanúnach ó 20 uair go dtí thart ar 200,000 uair.
2. Rún
Is é Rún an príomh-innéacs feidhmíochta de SEM.
Déantar an réiteach a chinneadh ag trastomhas an bhíoma leictreon eachtra agus an cineál comhartha modhnú:
Dá lú an trastomhas bhíoma leictreon, is airde an taifeach.
Tá réitigh dhifriúla ag comharthaí fisiceacha éagsúla a úsáidtear le haghaidh íomháithe.
Mar shampla, tá raonta astaíochta difriúla ag leictreoin SE agus BE ar dhromchla an tsampla, agus tá a rúin difriúil. Go ginearálta, bíonn taifeach SE thart ar 5-10 nm, agus tá thart ar 50-200 nm ag BE.
3. Doimhneacht na páirce
Tagraíonn sé do raon cumais ar féidir le lionsa díriú agus íomhá ag an am céanna ar chodanna éagsúla de shampla le míchothromas.
Glacann lionsa deiridh an mhicreascóp leictreon scanadh uillinn beag Cró agus fad fócasach fada, agus mar sin is féidir doimhneacht réimse mór a fháil, atá 100-500 uair níos mó ná sin de mhicreascóp optúil ginearálta agus 10 n-uaire níos mó ná leictreonmhicreascóp tarchuir.
Is iad doimhneacht mhór réimse, tuiscint láidir tríthoiseach, agus cruth réalaíoch na gnéithe den scoth de SEM.
Roinntear eiseamail le haghaidh SEM i dhá chatagóir:
Is sampla é 1 le seoltacht maith, is féidir a chruth bunaidh a choinneáil go ginearálta agus is féidir é a fheiceáil i micreascóp leictreon gan nó le glanadh beag;
2. Ní mór samplaí neamhsheoltach, nó samplaí a chaillfidh uisce, outgas, crapadh agus deform i bhfolús, a chóireáil i gceart sular féidir iad a urramú.
