Conas micreascóp a roghnú a oireann do do chuid riachtanas?
I réimse an taighde eolaíoch agus na tástála anailíseach, gan amhras is uirlisí fíor-riachtanach iad micreascóip agus tugtar "súil na heolaíochta" orthu. Cuireann sé ar chumas daoine iniúchadh a dhéanamh ar an domhan micreascópach nach féidir a idirdhealú leis an tsúil nocht, ag soláthar príomhthacaíocht teicneolaíochta do réimsí ar nós taighde ábhar, bithleighis agus tástáil thionsclaíoch. Ag tabhairt aghaidh ar riachtanais taighde éagsúla, tá conas an micreascóp cuí a roghnú ina ábhar imní do go leor taighdeoirí.
Úsáideann an micreascóp seo léas leictreoin ardbhrú mar fhoinse solais agus díríonn sé an íomháú trí lionsa leictreamaighnéadach. Is féidir leis a formhéadú na milliúin uair a bhaint amach, agus féadann a réiteach fiú leibhéal angstroms (Å) (1 Å comhionann le 0.1 nanaiméadar) a bhaint amach, atá leordhóthanach chun gnéithe struchtúracha an leibhéal adamhach a urramú.
Tá prionsabal oibre an mhicreascópachta leictreoin tarchurtha cosúil le prionsabal oibre an mhicreascópachta optúla, ach úsáideann sé léasacha leictreon in ionad solas infheicthe agus lionsaí leictreamaighnéadacha in ionad lionsaí optúla. Mar gheall ar an bhfíric go bhfuil tonnta leictreonacha i bhfad níos lú ná tonnfhad an tsolais infheicthe, de réir teoiric teorann díraonta Abbe, tá a réiteach feabhsaithe go mór, ag baint amach taiscéalaíocht deiridh an domhain micreascópach.
Tá forbairt tapa tagtha ar theicneolaíocht mhicreascópachta leictreon tarchurtha nua-aimseartha, rud a thugann samhlacha chun cinn éagsúla: comhcheanglaíonn scanadh micreascópachta leictreon tarchurtha (STEM) na buntáistí a bhaineann le modhanna scanadh agus tarchurtha araon; Is féidir micreascópacht leictreon tarchurtha ultra-tapa (UTEM) a úsáid chun staidéar a dhéanamh ar phróisis dinimiciúla ultrafast; Tá micreascópacht leictreoin tarchurtha reoite (FTEM) oiriúnach go háirithe chun staidéar a dhéanamh ar bhithmhóilíní; Is féidir le micreascópacht leictreoin tarchurtha in situ (TEM) athruithe fíor-ama a fheiceáil i samplaí faoi spreagthaigh sheachtracha; Feabhsaíonn micreascópacht leictreoin tarchurtha um cheartú sféarú sféarúil (CTEM) an réiteach trí shéaruithe lionsa a cheartú.
Ba chóir a thabhairt faoi deara go bhfuil tréithe ardchostas, oibríocht chasta agus dianriachtanais ullmhúcháin samplaí ag micreascópacht leictreon tarchurtha, mar ionstraim ardchruinneas. Ní mór an sampla a ullmhú ina slisní thar a bheith tanaí (níos lú ná 100 nanaiméadar de ghnáth) chun dul i bhfód le léas leictreoin.
leictreonmhicreascóp a scanadh
Má tá an scála taighde i raon na ndeicheanna nanaiméadar go milliméadar agus díríonn sé go príomha ar shaintréithe moirfeolaíochta dromchla an tsampla, is rogha níos oiriúnaí é scanadh micreascópachta leictreon (SEM). Tá raon méadaithe leathan ag an micreascóp seo (de ghnáth ó 10x go 300000 uair), ar féidir leo freastal ar an chuid is mó de na riachtanais maidir le breathnóireacht mhoirfeolaíochta, anailís eiliminteach, anailís micreastruchtúr, agus mar sin de.
Is é prionsabal oibre scanadh micreascópachta leictreon ná an dromchla samplach a scanadh pointe de réir pointe le bhíoma leictreon, agus ansin comharthaí cosúil le leictreoin tánaisteacha agus leictreoin backscattered ginte ag an sampla a bhrath chun íomhá a fhoirmiú.
