Réamhrá le saintréithe feidhmíochta scanadh micreascóip leictreon
Réamhrá le saintréithe feidhmíochta scanadh micreascóip leictreon
Tá cineálacha éagsúla micreascóip leictreon scanadh ann, agus tá difríochtaí feidhmíochta ag cineálacha éagsúla micreascóip leictreon scanadh. De réir an cineál gunna leictreon, is féidir é a roinnt ina thrí chineál: gunna leictreon astaithe réimse, gunna sreang tungstain agus heicseabóríd lanthanum [5]. Ina measc, is féidir micreascóip leictreon scanadh astaíochtaí allamuigh a roinnt ina micreascóip leictreon scanadh astaíochtaí fuar-réimse agus micreascóip leictreon scanadh astaíochtaí réimse te de réir fheidhmíocht na foinse solais. Tá ceanglais ard ag micreascópacht leictreon scanadh astaíochtaí fuar-réimse maidir le coinníollacha folúis, sruth bhíoma éagobhsaí, saol seirbhíse gearr an astaíre, agus an gá atá leis an rinn a ghlanadh go rialta. Tá sé teoranta do bhreathnóireacht íomhá amháin agus tá raon feidhme teoranta aige; agus scanadh astaíochtaí réimse teirmeach micreascópacht leictreon, ní hamháin go leanúnach Tá am oibre fada aige agus is féidir é a úsáid le héagsúlacht gabhálais chun anailís chuimsitheach a bhaint amach. I réimse na geolaíochta, ní hamháin go gcaithfimid réamhbhreithnithe moirfeolaíocha a dhéanamh ar shamplaí, ach ní mór dúinn anailíseoirí a chur le chéile freisin chun anailís a dhéanamh ar airíonna eile de na samplaí, agus mar sin déantar úsáid níos forleithne a bhaint as micreascópacht leictreoin scanadh astaithe réimse teirmeach.
Is ionstraim bheachtais ar scála mór é an micreascóp leictreon scanadh (SEM) a úsáidtear le haghaidh anailíse moirfeolaíochta micrea-réigiúin ardtaifigh. Tá tréithe doimhneacht réimse mór aige, ard-réiteach, íomháú iomasach, tuiscint láidir tríthoiseach, raon méadaithe leathan, agus is féidir an sampla atá le tástáil a rothlú agus a chlaonadh i spás tríthoiseach. Ina theannta sin, tá na buntáistí a bhaineann le cineálacha saibhir samplaí intomhaiste, beagnach aon damáiste nó éilliú ar an sampla bunaidh, agus an cumas chun moirfeolaíocht, struchtúr, comhdhéanamh agus faisnéis crystallographic a fháil ag an am céanna. Faoi láthair, úsáidtear scanadh micreascóip leictreon go forleathan i dtaighde micreascópach i réimsí na n-eolaíochtaí beatha, na fisice, na ceimice, an cheartais, eolaíochtaí talún, eolaíocht ábhair, agus táirgeadh tionsclaíoch. Sna heolaíochtaí talún amháin, folaíonn sé criostalagrafaíocht, mianreolaíocht agus taiscí mianraí. , dríodareolaíocht, geocheimic, gemology, micropaleontology, geolaíocht réalteolaíoch, geolaíocht ola agus gáis, geolaíocht innealtóireachta agus geolaíocht struchtúrach, etc.
Cé go bhfuil micreascópacht leictreon scanadh ina réalta ag ardú sa teaghlach micreascóp, tá sé ag forbairt go tapa mar gheall ar a buntáistí iomadúla.
1. Tá réiteach na hionstraime ard. Is féidir leis sonraí thart ar 6nm a bhreathnú ar dhromchla an tsampla tríd an íomhá leictreon tánaisteach. Ag baint úsáide as an gunna leictreon LaB6, is féidir é a fheabhsú tuilleadh go 3nm.
2 Tá raon leathan athruithe ag formhéadú na hionstraime agus is féidir é a choigeartú go leanúnach. Mar sin, is féidir leat méideanna éagsúla réimsí radhairc a roghnú le haghaidh breathnóireachta de réir do riachtanas. Ag an am céanna, is féidir leat íomhánna soiléire ard-ghile a fháil freisin ag ardmhéadú atá deacair a bhaint amach le micreascóip leictreon tarchurtha ginearálta.
3. Tá doimhneacht an réimse chun an sampla a bhreathnú mór, tá an réimse radhairc mór, agus tá an íomhá iomlán tríthoiseach. Is féidir an garbh dromchla le luaineachtaí móra agus íomhá briste miotail míchothrom an tsampla a fheiceáil go díreach, rud a thugann mothú do dhaoine cuairt a thabhairt ar an domhan micreascópach go pearsanta.
4. Tá an t-ullmhúchán samplach simplí. Chomh fada agus a phróiseáiltear an sampla bloc nó púdar beagán nó gan a phróiseáil, is féidir é a chur go díreach sa mhicreascóp leictreon scanadh le haghaidh breathnóireachta, agus mar sin tá sé níos gaire do staid nádúrtha an ábhair.
5. Is féidir cáilíocht íomhá a rialú agus a fheabhsú go héifeachtach trí mhodhanna leictreonacha, mar shampla cothabháil uathoibríoch gile agus codarsnachta, ceartú uillinn tilt samplach, rothlú íomhá, nó feabhas a chur ar chaoinfhulaingt codarsnachta íomhá trí mhodhnú Y, chomh maith le gile agus dorchadas gach ceann acu. chuid den íomhá. Measartha. Ag baint úsáide as gléas dé-mhéadúcháin nó roghnóir íomhá, is féidir íomhánna le formhéaduithe éagsúla a fheiceáil ar an scáileán fluaraiseacha ag an am céanna.
6 Is féidir anailís chuimsitheach a dhéanamh. Feistithe le speictriméadar X-ghathaithe scaipthe tonnfhad (WDX) nó speictriméadar X-gha-scaipeadh fuinnimh (EDX), tá feidhm aige atá ag lorgaire leictreon agus féadann sé leictreoin fhrithchaite, X-ghathanna, fluaraiseacht catóide, leictreoin tarchurtha, agus Auger a bhrath freisin. astaítear leis an sampla. Leictreonaic etc. Léiríonn feidhmiú leathnaithe scanadh micreascópachta leictreon ar mhodhanna éagsúla anailíse micreascópacha agus micrea-limistéir chomh solúbtha agus atá scanadh micreascópachta leictreoin. Ina theannta sin, is féidir leat freisin micrea-réimsí roghnaithe den sampla a anailísiú agus an íomhá moirfeolaíochta á breathnú; Trí chúlpháirtí an tsealbhóra sampla leathsheoltóra a shuiteáil, is féidir leat an t-acomhal PN agus lochtanna micreascópacha sa trasraitheoir nó sa chiorcad iomlánaithe a fheiceáil go díreach tríd an aimplitheoir íomhá fórsa electromotive. Ós rud é go bhfuil go leor tóireadóirí leictreon micreascóp scanadh tar éis rialú uathoibríoch agus leath-uathoibríoch ag ríomhairí leictreonacha a bhaint amach, tá luas na hanailíse cainníochtúla feabhsaithe go mór.
