Na buntáistí uathúla a bhaineann le micreascópacht probe a scanadh
Tá prionsabal oibre micreascóp taiscéalaithe scanadh bunaithe ar airíonna fisiceacha éagsúla sa raon micreascópach nó meiseascópach. Déantar an t-idirghníomhú idir an dá cheann a bhrath trí dhromchla na substainte a ndearnadh staidéar uirthi a scanadh le taiscéalaí adamhach thar a bheith mín, chun tréithe dromchla na substainte a ndearnadh staidéar uirthi a fháil. Is é an príomhdhifríocht idir cineálacha éagsúla SPM ná a saintréithe tip snáthaidí agus na modhanna idirghníomhaíochta samplacha barr snáthaidí comhfhreagracha.
Tagann an prionsabal oibre ón bprionsabal tollánaithe sa mheicnic chandamach. Is é a chroí ná tip snáthaid atá in ann scanadh a dhéanamh ar dhromchla an tsampla agus tá voltas claonta áirithe idir é agus an sampla, le trastomhas de scála adamhach. Mar gheall ar an gcaidreamh easpónantúil diúltach idir an dóchúlacht go dtarlóidh tollánú leictreon agus leithead an bhacainn fhéideartha V (r), nuair a bhíonn an fad idir an rinn agus an sampla an-dlúth, éiríonn an bacainn ionchasach an-tanaí, agus forluíonn na scamaill leictreon le chéile. a chéile. Trí voltas a chur i bhfeidhm idir an rinn agus an sampla, is féidir leictreoin a aistriú ón rinn go dtí an sampla nó ón sampla go dtí an rinn tríd an éifeacht tollánaithe, rud a chruthaíonn sruth tollánaithe. Trí na hathruithe i sruth an tolláin idir barr na snáthaide agus an sampla a thaifeadadh, is féidir faisnéis a fháil ar mhoirfeolaíocht dhromchla an tsampla.
I gcomparáid le teicnící anailíse dromchla eile, tá buntáistí uathúla ag SPM:
(1) Tá ard-réiteach leibhéal adamhach aige. Is féidir le réiteach STM sa treo comhthreomhar agus ingearach leis an dromchla samplach teacht ar 0.1nm agus 0.01nm, faoi seach, ar féidir leo idirdhealú a dhéanamh ar adaimh aonair.
(2) Is féidir íomhánna fíor-ama 3D de dhromchlaí i spás fíor a fháil, ar féidir iad a úsáid chun staidéar a dhéanamh ar struchtúir dromchla le tréimhsiúlacht nó gan tréimhsiúlacht. Is féidir an fheidhmíocht inbhraite seo a úsáid chun staidéar a dhéanamh ar phróisis dhinimiciúla mar idirleathadh dromchla.
(3) Is féidir breathnú ar struchtúr dromchla áitiúil ciseal adamhach amháin, seachas airíonna meánacha an íomhá aonair nó an dromchla iomlán. Dá bhrí sin, is féidir lochtanna dromchla, atógáil dromchla, moirfeolaíocht agus suíomh na n-asaithe dromchla, agus atógáil dromchla de bharr adsorbents a thabhairt faoi deara go díreach.
(4) Is féidir leis oibriú i dtimpeallachtaí éagsúla cosúil le folús, atmaisféar, agus teocht an tseomra, agus fiú an sampla a thumadh in uisce agus réitigh eile gan gá le teicnící speisialta ullmhúcháin sampla, agus ní dhéanann an próiseas braite damáiste don sampla. Tá na saintréithe seo oiriúnach go háirithe chun staidéar a dhéanamh ar shamplaí bitheolaíocha agus measúnú a dhéanamh ar dhromchla samplaí faoi choinníollacha turgnamhacha éagsúla, mar shampla monatóireacht a dhéanamh ar mheicníocht catalaíoch multiphase, meicníocht superconducting, agus athruithe dromchla leictreoid le linn imoibrithe leictreamaiceimiceacha.
(5) Trí chomhoibriú le Speictreascópacht Thollánaithe Scanadh (STS), is féidir faisnéis a fháil faoi struchtúir leictreonacha dromchla, mar shampla dlús stáit ag leibhéil éagsúla an dromchla, toibreacha leictreon dromchla, athruithe ar bhacainní féideartha dromchla, agus struchtúir bearna fuinnimh.
