Cineálacha agus Gnéithe Micreascóip Leictreon Scanadh
Tá cineálacha éagsúla micreascóip leictreon scanadh, agus tá difríochtaí feidhmíochta ag cineálacha éagsúla micreascóip leictreon scanadh. De réir an chineáil ghunna leictreon, is féidir é a roinnt i dtrí chineál: gunna leictreon astaíochta allamuigh, gunna sreinge tungstain, agus lanthanum heicsidheachán. Ina measc, is féidir micreascópacht leictreon scanadh astaíochtaí allamuigh a roinnt ina micreascópacht leictreoin scanadh astaíochta allamuigh agus micreascópacht leictreon astaíochta allamuigh bunaithe ar fheidhmíocht an fhoinse solais. Éilíonn micreascópacht leictreoin scanadh astaíochtaí allamuigh, go bhfuil coinníollacha folúis arda ann, saolré éagobhsaí reatha, saolré gearr -astaire, agus teastaíonn glanadh rialta ar an rinn snáthaide, atá teoranta do bhreathnóireacht aon íomhá agus a bhfuil raon feidhme teoranta aige; Ní hamháin go bhfuil am oibre leanúnach fada ag micreascóp scanadh astaíochtaí teirmeacha allamuigh, ach is féidir é a chomhcheangal le gabhálais éagsúla chun anailís chuimsitheach a bhaint amach. I réimse na geolaíochta, ní hamháin go gcaithfimid réamh -mhoirfeolaíocht na samplaí a bhreathnú, ach ní mór dúinn freisin anailís a dhéanamh ar airíonna eile samplaí i gcomhar le hanailíseoirí, mar sin tá cur i bhfeidhm micreascópacht leictreon scanadh teirmeach allamuigh níos fairsinge.
Cé gur núíosach é micreascópacht leictreon a scanadh sa teaghlach micreascóp, tá a luas forbartha go han -tapa mar gheall ar a chuid buntáistí iomadúla.
Tá réiteach ard ag an ionstraim agus is féidir léi sonraí de thart ar 6nm a bhreathnú ar dhromchla an tsampla trí íomháú leictreon tánaisteach. Trí ghunna leictreon Lab6 a úsáid, is féidir é a fheabhsú a thuilleadh go 3nm.
Tá raon leathan athruithe formhéadúcháin ag an ionstraim agus is féidir í a choigeartú go leanúnach. Dá bhrí sin, is féidir méideanna difriúla réimsí radhairc a roghnú le haghaidh breathnóireachta de réir mar is gá, agus is féidir íomhánna soiléire le gile ard atá deacair a bhaint amach le micreascópacht leictreon tarchuir ghinearálta a fháil freisin ag formhéadú ard.
Tá doimhneacht na páirce agus an réimse radhairc den sampla mór, agus tá an íomhá saibhir i gciall tríthoiseach. Féadann sé breathnú go díreach ar dhromchlaí garbh le hísealbhuí mór agus íomhánna briste miotail míchothrom den sampla, rud a thugann tuiscint ar dhaoine a bheith i láthair sa domhan micreascópach.
Tá ullmhú na 4 shampla simplí. A fhad agus a dhéileáiltear le samplaí an bhloc nó púdair beagán nó nach gcaitear leo, is féidir iad a bhreathnú go díreach faoi mhicreascóp leictreon scanadh, atá níos gaire do staid nádúrtha na substainte.
5 Is féidir cáilíocht na híomhá a rialú agus a fheabhsú go héifeachtach trí mhodhanna leictreonacha, amhail cothabháil uathoibríoch gile agus codarsnachta, ceartú uillinn tilt samplach, uainíocht íomhá, nó feabhsú lamháltas codarsnachta íomhá trí mhodhnú Y, chomh maith le gile agus dorchadas measartha i gcodanna éagsúla den íomhá. Trí ghléas formhéadúcháin nó roghnóir íomhá a úsáid, is féidir íomhánna a bhfuil formhuinithe difriúla acu a bhreathnú go comhuaineach ar an scáileán fluaraiseacha.
Is féidir anailís chuimsitheach a dhéanamh ar 6. Suiteáil speictriméadar X-ghathaithe scaipthe (WDX) nó speictriméadar X-ghathaithe Fuinnimh (EDX) scaipthe chun cur ar a chumas feidhmiú mar thóireadóir leictreon agus a bhrath leictreoin, x-ghathanna, catodoluminescence, leictreoin tarchurtha, leictreoin auger, etc. a astaítear leis an sampla. Léirigh cur i bhfeidhm micreascópachta leictreon a scanadh chuig modhanna éagsúla anailíse micreascópacha agus micrea -limistéir an ilfheidhmeacht a bhaineann le micreascópacht leictreon a scanadh. Ina theannta sin, is féidir anailís a dhéanamh ar na micrea -limistéir roghnaithe den sampla agus an íomhá mhoirfeolaíochta a bhreathnú; Tríd an gceangal de shealbhóir an tsampla leathsheoltóra a shuiteáil, is féidir breathnú go díreach ar acomhail PN agus ar mhicrea -lochtanna i trasraitheoirí nó i gciorcaid chomhtháite trí aimplitheoir íomhá fórsa leictreamaigh. Mar gheall ar chur i bhfeidhm rialú leictreonach uathoibríoch agus leath-uathoibríoch ar go leor tóireadóirí leictreon micreascóp leictreon, tá feabhas mór tagtha ar luas na hanailíse cainníochtúla.
