Buntáistí Uathúla a bhaineann le Micreascópacht Tóraithe Scanadh
Tá prionsabal oibre an mhicreascóip taiscéalaithe scanadh bunaithe ar shaintréithe fisiceacha éagsúla sa raon micreascópach nó meiseascópach, agus aimsíonn sé an t-idirghníomhú idir an dá cheann agus é ag scanadh dromchla na substainte atá le staidéar ag taiscéalaí adamhach tanaí, ionas go bhfaighfear an To staidéar a dhéanamh ar airíonna dromchla an ábhair, is é an príomhdhifríocht idir na cineálacha éagsúla SPM ná a n-airíonna tip agus an bealach comhfhreagrach a idirghníomhaíonn an rinn leis an sampla.
Tagann an prionsabal oibre ón bprionsabal tollánaithe sa mheicnic chandamach. Is é a chroí ná tip snáthaid atá in ann scanadh a dhéanamh ar dhromchla an tsampla, tá voltas claonta áirithe aige leis an sampla, agus tá trastomhas scála adamhach aige. Ós rud é go bhfuil gaol easpónantúil diúltach ag an dóchúlacht go mbeidh tollánú leictreon le leithead an bhacainn phoitéinsil V(r), nuair a bhíonn an fad idir an rinn agus an sampla an-dlúth, éiríonn an bacainn ionchasach eatarthu an-tanaí, agus forluíonn na scamaill leictreon. a chéile. Nuair a chuirtear voltas i bhfeidhm, is féidir leictreoin a aistriú ón rinn go dtí an sampla nó ón sampla go dtí an rinn tríd an éifeacht tolláin, rud a chruthaíonn sruth tollán. Trí athrú srutha an tolláin a thaifeadadh idir barr na snáthaide agus an sampla, is féidir faisnéis faoi thopagrafaíocht dhromchla an tsampla a fháil.
I gcomparáid le teicnící anailíse dromchla eile, tá buntáistí uathúla ag SPM:
(1) Tá ard-réiteach adamhach aige. Is féidir le réiteach STM sa treo atá comhthreomhar leis an dromchla samplach agus ingearach leis a bhaint amach 0.1nm agus 0.01nm, faoi seach, agus is féidir adaimh aonair a réiteach.
(2) Is féidir íomhá tríthoiseach an dromchla i spás fíor a fháil i bhfíor-am, is féidir a úsáid chun staidéar a dhéanamh ar struchtúr dromchla tréimhsiúil nó neamh-thréimhsiúil. Is féidir an fheidhmíocht inbhraite seo a úsáid chun staidéar a dhéanamh ar phróisis dhinimiciúla amhail idirleathadh dromchla.
(3) Is féidir breathnú ar an struchtúr dromchla áitiúil de chiseal adamhach amháin, seachas an íomhá aonair nó airíonna meánacha an dromchla iomlán, ionas go mbeidh lochtanna dromchla, atógáil dromchla, moirfeolaíocht agus suíomh adsorbents dromchla, agus an is féidir athruithe de bharr adsorbents a fheiceáil go díreach. Atógáil dromchla, etc.
(4) Is féidir leis oibriú i dtimpeallachtaí éagsúla mar fholús, atmaisféar, agus teocht gnáth, agus fiú an sampla a thumadh in uisce agus réitigh eile, gan teicneolaíocht speisialta ullmhúcháin sampla, agus ní dhéanfaidh an próiseas braite damáiste don sampla. Tá na gnéithe seo oiriúnach go háirithe chun staidéar a dhéanamh ar shamplaí bitheolaíocha agus meastóireacht a dhéanamh ar dhromchlaí samplacha faoi choinníollacha turgnamhacha éagsúla, mar shampla monatóireacht a dhéanamh ar mheicníochtaí catalaíoch ilchineálach, meicníochtaí superconducting, agus athruithe dromchla leictreoid le linn imoibrithe leictriceimiceach.
(5) Comhoibriú le STS (Scanning Tunneling Spectroscopy), is féidir faisnéis a fháil faoin struchtúr leictreonach dromchla, mar shampla dlús stáit ag leibhéil éagsúla an dromchla, toibreacha leictreon dromchla, athruithe ar bhacainní féideartha dromchla, agus struchtúir bearna fuinnimh.
