Feidhmchláir agus tréithe micreascópachta leictreon Tarchurtha
Is micreascóp ardtaifigh é micreascópacht tarchurtha leictreon (TEM) a úsáidtear chun struchtúr inmheánach samplaí a bhreathnú. Úsáideann sé léas leictreoin chun dul isteach sa sampla agus chun íomhá teilgthe a fhoirmiú, a léirmhínítear agus a anailísítear ansin chun micreastruchtúr an tsampla a nochtadh.
1. Foinse leictreonach
Úsáideann TEM léas leictreoin in ionad léas solais. Úsáideann micreascóp leictreon tarchurtha sraith Talos atá feistithe ag Jifeng Electronic MA Laboratory gunna leictreon gile ultra-ard, agus úsáideann micreascóp leictreon tarchuir sféarúil HF5000 gunna leictreon fuar-réimse.
2. Córas folúis
Chun an t-idirghníomhú idir an bhíoma leictreon agus an gás a sheachaint sula dtéann sé tríd an sampla, ní mór an micreascóp iomlán a choinneáil faoi choinníollacha folús ard.
3. Sampla tarchurtha
Caithfidh an sampla a bheith trédhearcach, rud a chiallaíonn gur féidir leis an léas leictreon dul isteach ann, idirghníomhú leis, agus íomhá teilgthe a chruthú. Go hiondúil, téann tiús an tsampla ó nanaiméadar go fomhicróin. Tá Jifeng Electronics feistithe le mórán de Helios 5 sraith FIBs chun samplaí TEM ultra-tanaí ardchaighdeáin a ullmhú.
4. Córas tarchurtha leictreonach
Tá an léas leictreon dírithe trí chóras tarchurtha. Tá na lionsaí seo cosúil le lionsaí i micreascóip optúla, ach mar gheall ar an tonnfhad leictreoin i bhfad níos giorra i gcomparáid le tonnta solais, tá na ceanglais deartha agus déantúsaíochta do lionsaí níos airde.
5. Eitleán íomhá
Tar éis dul tríd an sampla, téann an bhíoma leictreon isteach i eitleán íomhá. Ar an eitleán seo, déantar faisnéis an léas leictreon a thiontú ina íomhá agus a ghabháil ag an brathadóir.
6. Brathadóir
Is iad na brathadóirí is coitianta ná scáileáin fluaraiseacha, ceamaraí CCD (feiste muirearaithe), nó ceamaraí CMOS (feiste leathsheoltóra ocsaíd miotail chomhlántach). Nuair a idirghníomhaíonn léas leictreon le scáileán fluaraiseacha ar an eitleán íomhá, gintear solas infheicthe, ag cruthú íomhá réamh-mheasta den sampla, a úsáidtear go coitianta chun an sampla a aimsiú. Mar gheall ar an ngá atá le scáileáin fluaraiseacha a úsáid i dtimpeallacht seomra dorcha, nach bhfuil éasca le húsáid le haghaidh oibriú úsáideora, déanfaidh monaróirí reatha ceamara a shuiteáil os cionn taobh an scáileáin fluaraiseachta, rud a ligeann d'oibreoirí TEM an taispeáint a urramú i gile. timpeallacht chun samplaí a chuardach, tilting an seafta crios, agus oibríochtaí eile. Is é an feabhas neamhfheiceálach seo an bonn chun scaradh daonna-inneall a bhaint amach.
7. Foirmiú íomhá
Nuair a théann an léas leictreon tríd an sampla, idirghníomhaíonn sé leis na hadaimh agus an struchtúr criostail taobh istigh den sampla, scaipthe agus ionsú. Bunaithe ar na hidirghníomhaíochtaí seo, cruthóidh déine an léas leictreoin íomhá ar an eitleán íomhá. Is íomhánna déthoiseacha teilgean iad na híomhánna seo go léir, ach is minic a bhíonn struchtúr inmheánach an tsampla tríthoiseach, mar sin ba chóir aird ar leith a thabhairt air seo nuair a bhíonn an fhaisnéis mhionsonraithe taobh istigh den sampla á anailísiú.
8. Anailís agus Léiriú
Trí na híomhánna a bhreathnú agus a anailísiú, is féidir le taighdeoirí struchtúr criostail an tsampla, paraiméadair laitíse, locht Crystallografach, socrú adamhach agus faisnéis microstructure eile a thuiscint. Tá foireann ghairmiúil anailíse ábhar ag Ji Feng ar féidir leo réitigh anailíse próiseas iomlán agus tuarascálacha gairmiúla anailíse ábhar a sholáthar do chustaiméirí.
