Modhanna Aicmithe agus catagóirí micreascóip leictreon
Is féidir micreascóip leictreoin a roinnt ina micreascóip leictreoin tarchurtha, ag scanadh micreascóip leictreon, micreascóip leictreoin machnaimh agus micreascóip leictreoin astaithe de réir a struchtúir agus a n-úsáidí.
Is minic a úsáidtear micreascóip tarchurtha leictreoin chun mionstruchtúir ábhar a bhreathnú nach féidir a idirdhealú le gnáthmhicreascóip; úsáidtear micreascóip leictreon scanadh go príomha chun deilbhíocht na dromchlaí soladacha a urramú, agus is féidir iad a chomhcheangal freisin le diffractometers X-gha nó speictriméadar fuinnimh leictreon chun leictreon a fhoirmiú. úsáidtear micreascóip leictreoin astaithe chun staidéar a dhéanamh ar dhromchlaí leictreoin féin-astaíoch.
Tarchur micreascóp leictreon
Tá sé ainmnithe tar éis don léas leictreon dul isteach sa sampla agus ansin úsáideann sé lionsa leictreon chun an íomhá a íomháú agus a fhormhéadú. Tá a chonair solais cosúil le cosán micreascóp optúil, agus is féidir leis teilgean sampla a fháil go díreach. Trí chóras lionsa an lionsa oibiachtúil a athrú is féidir an íomhá a mhéadú go díreach ag pointe fócasach an lionsa oibiachtúil. Ón seo is féidir íomhánna díraonta leictreon a fháil. Is féidir an íomhá seo a úsáid chun struchtúr criostail an tsampla a anailísiú. Sa chineál seo de mhicreascóp leictreon, cruthaítear codarsnacht sonraí íomhá nuair a scaipeann adaimh an tsampla an léas leictreoin. Ós rud é go gcaithfidh na leictreoin taisteal tríd an sampla, caithfidh an sampla a bheith an-tanaí. Déantar tiús an tsampla a chinneadh ag meáchain adamhacha na n-adamh atá sa sampla, an voltas ag a bhfuil na leictreoin ag luasghéarú, agus an taifeach atá ag teastáil. Féadfaidh tiús an tsampla a bheith éagsúil ó chúpla nanaiméadar go roinnt micriméadair. Dá airde an meáchan adamhach agus dá ísle an voltas, is tanaí an sampla a chaithfidh a bheith. Tá níos lú scaipthe bhíoma leictreon ag an gcuid den sampla atá níos tanaí nó le dlús níos ísle, agus mar sin téann níos mó leictreon tríd an oscailt lionsa oibiachtúil agus páirt a ghlacadh san íomháú, rud a fhágann go bhfuil an íomhá níos gile. Os a choinne sin, beidh codanna níos tiús nó níos dlúithe den sampla le feiceáil níos dorcha san íomhá. Má tá an sampla ró-tiubh nó dlúth, tiocfaidh meath ar chodarsnacht na híomhá agus féadfar damáiste nó scrios a dhéanamh fiú trí fhuinneamh an léas leictreoin a ionsú.
Is é {{{0}}.1~0.2nm taifeach leictreon-mhicreascóp tarchurtha, agus is é an formhéadú na mílte go dtí na céadta mílte uair. Ós rud é go bhfuil leictreoin scaipthe go héasca nó á ionsú ag rudaí, tá an chumhacht treá íseal, agus ní mór ailt ultrathin níos tanaí a ullmhú (de ghnáth 50 go 100nm).
Is gunna leictreon é barr an bharaille micreascóp leictreon tarchurtha. Astaítear na leictreoin ón gcatóid the filiméid tungstain agus téann siad tríd an gcéad agus an dara comhdhlúthadán chun an léas leictreoin a dhíriú. Tar éis don bhíoma leictreon dul tríd an sampla, déantar é a íomháú ar an scáthán idirmheánach ag an lionsa oibiachtúil, agus ansin déantar é a aimpliú de réir a chéile ag an scáthán idirmheánach agus an scáthán teilgean, agus tá sé íomháithe ar an scáileán fluaraiseacha nó ar phláta tirim grianghrafadóireachta. Déanann an scáthán idirmheánach an sruth excitation a choigeartú go príomha, agus is féidir an formhéadú a athrú go leanúnach ó iliomad uaireanta go dtí na céadta mílte uair. Trí fhad fócasach an scátháin idirmheánach a athrú, is féidir íomhánna micreascópachta leictreon agus íomhánna díraonta leictreon a fháil ar chodanna bídeacha den sampla céanna. .
leictreonmhicreascóp a scanadh
Ní théann an léas leictreon de mhicreascóp leictreon scanadh tríd an sampla, ach díríonn sé an léas leictreon ar limistéar beag den sampla oiread agus is féidir, agus ansin scanadh an sampla de réir líne. Déanann na leictreoin theagmhasacha leictreoin tánaisteacha a sceiteadh ó dhromchla an tsampla. Is é an rud a fheiceann an micreascóp ná na leictreoin scaipthe ó gach pointe. Faigheann an criostail scintillation a chuirtear in aice leis an sampla na leictreoin tánaisteacha seo agus méadaíonn sé iad chun déine léas leictreon an fheadáin phictiúr a mhodhnú, rud a athróidh an gile ar scáileán fluaraiseacha an fheadáin phictiúr. Is íomhá tríthoiseach í an íomhá, rud a léiríonn struchtúr dromchla an eiseamail. Coinníonn coil sraonadh an fheadáin phictiúr scanadh go sioncrónach leis an bhíoma leictreon ar dhromchla an tsampla, ionas go dtaispeánann scáileán fluaraiseacha an fheadáin phictiúr íomhá topagrafach an dromchla samplach, atá cosúil le prionsabal oibre teilifíse tionsclaíoch. Ós rud é nach gá na leictreoin i micreascóp den sórt sin a tharchur tríd an sampla, ní gá go mbeadh an voltas ag a bhfuil siad luathaithe an-ard.
Déantar réiteach micreascóp leictreon scanadh a chinneadh go príomha ag trastomhas an bhíoma leictreon ar an dromchla samplach. Is é an formhéadú an cóimheas idir an aimplitiúid scanadh ar an bhfeadán pictiúr agus an aimplitiúid scanadh ar an sampla, agus féadann sé athrú go leanúnach ó iliomad uaireanta go dtí na céadta mílte uair. Ní bhíonn samplaí an-tanaí de dhíth ar mhicreascóip leictreoin; tá éifeacht láidir tríthoiseach ag na híomhánna; is féidir leo faisnéis amhail leictreoin thánaisteacha, leictreoin ionsúite agus X-ghathanna a ghintear tríd an idirghníomhú idir léasacha leictreon agus substaintí a úsáid chun anailís a dhéanamh ar chomhdhéanamh substaintí.
Tá tógáil scanadh micreascóip leictreon bunaithe ar an idirghníomhú idir leictreoin agus ábhar. Nuair a bhuaileann léas leictreoin teagmhais ardfhuinnimh dromchla ábhair, déanfaidh an limistéar corraithe leictreoin tánaisteacha, leictreoin Auger, X-ghathanna tréithiúla agus X-ghathanna speictrim leanúnach, leictreoin backscattered, leictreoin tarchurtha, agus infheicthe, ultraivialait, agus solas infridhearg. radaíocht leictreamaighnéadach a ghintear sa cheantar. Ag an am céanna, is féidir péirí leictreon-poll, vibrations laitíse (fónóin), agus ascaluithe leictreon (plasma) a ghiniúint freisin.
