Buntáistí uathúla micreascópachta taiscéalaí scanadh
Tá prionsabal oibre an Mhicreascóip Scanning Probe bunaithe ar airíonna fisiceacha éagsúla sa raon micreascópach nó mesoscópach, agus aimsítear an t-idirghníomhú eatarthu trí scanadh an-fíneáil de scanadh líneachta adamhach os cionn dhromchla na substainte atá faoi staidéar, d'fhonn airíonna dromchla na substainte atá faoi staidéar a fháil, luíonn an phríomhdhifríocht idir na cineálacha éagsúla SPManna na difríochtaí i saintréithe a gcuid snáthaidí agus na bealaí comhfhreagracha atá acu chun idirghníomhú le samplaí na snáthaidí.
Tá prionsabal na hoibríochta díorthaithe as an tollánú trí phrionsabal i Meicnic chandamach. Ag a chroí tá tip is féidir a scanadh thar dhromchla an tsampla le claonvoltas áirithe idir é agus an sampla, agus a bhfuil a thrastomhas ar an scála adamhach. Toisc go léiríonn seans tollánaithe leictreon caidreamh easpónantúil diúltach le leithead an bhacainn fhéideartha V(r), nuair a bhíonn an fad idir barr na snáthaide agus an sampla an-dlúth, éiríonn an bacainn ionchasach eatarthu an-tanaí, agus an forluíonn scamaill leictreon ar a chéile, agus trí voltas a chur i bhfeidhm idir barr na snáthaide agus an tsampla, is féidir na leictreoin a aistriú ón rinn go dtí an sampla nó ón sampla go dtí barr na snáthaide tríd an éifeacht tollánaithe chun tollán a fhoirmiú. reatha. Trí na hathruithe ar an sruth tollánaithe idir an rinn agus an sampla a thaifeadadh, is féidir faisnéis a fháil ar mhoirfeolaíocht dhromchla an tsampla.
Tá buntáistí uathúla ag SPM thar theicnící eile anailíse dromchla:
(1) Ard-réiteach ag an leibhéal adamhach, le rúin de 0.1 nm sa comhthreomhar agus 0.01 nm sa treo ingearach leis an dromchla samplach, nuair is féidir adaimh aonair a réiteach.
(2) Is féidir íomhá tríthoiseach den dromchla sa spás fíor a fháil i bhfíor-am, ar féidir é a úsáid chun staidéar a dhéanamh ar struchtúir dromchla tréimhsiúla nó neamhthréimhsiúla, agus is féidir an fheidhmíocht inbhraite seo a úsáid chun staidéar a dhéanamh ar phróisis dhinimiciúla. mar idirleathadh dromchla.
(3) Is féidir breathnú ar an struchtúr dromchla áitiúil de chiseal adamhach aonair seachas an íomhá aonair nó nádúr meánach an dromchla iomlán, agus dá bhrí sin is féidir lochtanna dromchla, atógáil dromchla, moirfeolaíocht agus suíomh na n-athchruthú dromchla a urramú go díreach. adsorbates dromchla, agus atógáil dromchla de bharr adsorbates.
(4) Is féidir leis oibriú i dtimpeallachtaí éagsúla, mar shampla bhfolús, atmaisféar, teocht an tseomra, etc., agus féadann sé an sampla a thumadh fiú in uisce agus réitigh eile, nach bhfuil gá le teicnící samplála speisialta agus nach ndéanann sé damáiste don sampla le linn an bhrath. próiseas. Tá na gnéithe seo oiriúnach go háirithe chun staidéar a dhéanamh ar shamplaí bitheolaíocha agus meastóireacht a dhéanamh ar dhromchla an tsampla faoi choinníollacha turgnamhacha éagsúla, mar shampla meicníocht catalaíoch multiphase, meicníocht superconductivity, agus monatóireacht a dhéanamh ar athruithe dromchla leictreoid le linn imoibrithe leictriceimiceach.
(5) I gcomhcheangal le speictreascópacht tollánaithe scanadh (STS), is féidir faisnéis a fháil faoi struchtúr leictreonach an dromchla, mar shampla dlús stáit ag leibhéil éagsúla an dromchla, na gaistí leictreon dromchla, éagsúlacht na mbacainní féideartha dromchla. agus an struchtúr bearna fuinnimh.
