Cén fáth a bhfuil taifeach an mhicreascóip leictreon i bhfad níos airde ná an micreascóp solais
Toisc go n-úsáideann micreascóip leictreon bíomaí leictreon agus go n-úsáideann micreascóip optúla solas infheicthe, agus go bhfuil tonnfhad na léasacha leictreon níos giorra ná an solas infheicthe, tá réiteach na leictreon-mhicreascóip i bhfad níos airde ná mar a bhaineann le micreascóip optúla.
Tá baint ag réiteach an mhicreascóp le huillinn an chóin eachtra agus le tonnfhad an léas leictreoin a théann tríd an sampla.
Tá tonnfhad an tsolais infheicthe thart ar {{0}} nanaiméadar, agus tá baint ag tonnfhad na léasacha leictreoin leis an voltas luasghéaraithe. De réir phrionsabal na dualachta tonncháithníní, tá tonnfhad na leictreon ardluais níos giorra ná an solas infheicthe, agus tá réiteach an mhicreascóp teoranta ag an tonnfhad a úsáideann sé, agus mar sin tá réiteach an mhicreascóp leictreon (0.2 nanaiméadar) i bhfad níos airde ná an micreascóp optúil (200nm).
Tá cur i bhfeidhm na teicneolaíochta micreascóp leictreon bunaithe ar an micreascóp optúil. Is é {{0}}.2μm réiteach an mhicreascóp optúil, agus is é 0.2nm réiteach an mhicreascóp leictreon tarchurtha. Is é sin le rá, tá an leictreon-mhicreascóp tarchurtha méadaithe faoi 1000 ar bhonn an mhicreascóp optúil. amanna.
Cé go bhfuil taifeach leictreonmhicreascóp i bhfad níos airde ná réiteach micreascóp solais, tá roinnt míbhuntáistí aige:
1. I micreascóp leictreon, ní mór samplaí a bhreathnú i bhfolús, mar sin ní féidir samplaí beo a fheiceáil. Le dul chun cinn na teicneolaíochta, déanfaidh an micreascóp leictreon scanadh comhshaoil a bhaint amach de réir a chéile le breathnú díreach ar shamplaí beo;
2. Nuair a bhíonn an sampla á phróiseáil, féadfaidh sé struchtúr a tháirgeadh nach bhfuil ag an sampla, rud a mhéadaíonn an deacracht a bhaineann le hanailís a dhéanamh ar an íomhá ina dhiaidh sin;
3. Mar gheall ar an gcumas scaipthe leictreon láidir, is furasta díraonadh tánaisteach a tharlaíonn;
4. Toisc go bhfuil sé ina íomhá teilgean eitleán déthoiseach de réad tríthoiseach, uaireanta nach bhfuil an íomhá uathúil;
5. Ós rud é nach féidir leis an micreascóp leictreon tarchurtha ach samplaí an-tanaí a urramú, is féidir go bhfuil struchtúr dromchla an ábhair difriúil ón struchtúr taobh istigh den ábhar;
6. I gcás samplaí ultra-tanaí (níos lú ná 100 nanaiméadar), tá an próiseas ullmhúcháin sampla casta agus deacair, agus déantar damáiste don ullmhúchán samplach;
7. Féadfaidh an bhíoma leictreon an sampla a mhilleadh trí imbhualadh agus téamh;
8. Tá praghsanna ceannaigh agus cothabhála micreascóip leictreon sách ard.
